工業(yè)X射線衍射儀點陣常數(shù)的測定

　　工業(yè)X射線衍射儀是進行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。工業(yè)X射線衍射儀帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。工業(yè)X射線衍射儀的X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進行物相鑒定的粉末法。
　　工業(yè)X射線衍射儀可用于點陣常數(shù)的測定：
　　點陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)，測定點陣常數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應(yīng)用。點陣常數(shù)的測定是通過X射線衍射線的位置（θ）的測定而獲得的，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數(shù)值。點陣常數(shù)測定中的度涉及兩個獨立的問題，即波長的精度和布拉格角的測量精度。波長的問題主要是X射線譜學家的責任，衍射工作者的任務(wù)是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應(yīng)的關(guān)系。知道每根反射線的密勒指數(shù)后就可以根據(jù)不同的晶系用相應(yīng)的公式計算點陣常數(shù)。晶面間距測量的精度隨θ角的增加而增加，θ越大得到的點陣常數(shù)值越，因而點陣常數(shù)測定時應(yīng)選用高角度衍射線。誤差一般采用圖解外推法和zui小二乘法來消除，點陣常數(shù)測定的度極限處在1×10-5附近。