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高效安裝X射線衍射儀:分享其前期準(zhǔn)備工作秘訣!
發(fā)布時(shí)間:2025-04-07

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來(lái)精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-12-12

    本文摘要本文介紹了馬爾文帕納科為石墨微量無(wú)機(jī)組分提供了一種前處理簡(jiǎn)單、環(huán)保、安全且快速的分析方法。這套XRF分析方法,采用壓片制樣,樣品無(wú)需消解,過(guò)程自動(dòng)化程度高,為選礦、研發(fā)及生產(chǎn)提供了更高效、便捷且準(zhǔn)確的解決方案。應(yīng)用背景石墨由于其優(yōu)良的結(jié)構(gòu)和電學(xué)特性,是優(yōu)質(zhì)的鋰電池負(fù)極材料。同時(shí)得益于廉價(jià)易得和易于加工的特點(diǎn),石墨化碳材料成為當(dāng)今商業(yè)化最早、應(yīng)用廣泛且成熟的負(fù)極材料。在石墨材料應(yīng)用于鋰電行業(yè)的過(guò)程中,原生礦物當(dāng)中含有的硅鋁鈣鎂鐵等雜質(zhì)元素,以及通過(guò)表面處理、包覆改性、摻...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-12-08

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)納米顆粒動(dòng)態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng),并通過(guò)圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過(guò)采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過(guò)分析軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,如計(jì)算平均直徑...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-12-04

    本文摘要本文記錄了Masterziser3000激光粒度儀和Morphologi-4全自動(dòng)粒度粒形分析儀對(duì)負(fù)極材料進(jìn)行粒度粒形測(cè)試的過(guò)程,并提供了解決石墨樣品分散漂浮和細(xì)粉不穩(wěn)定等典型問(wèn)題的解決辦法。此外,還根據(jù)樣品粒形測(cè)試的結(jié)果對(duì)電池負(fù)極材料球形度對(duì)電池質(zhì)量的影響進(jìn)行了闡述。全文分為兩篇,此為下篇。實(shí)驗(yàn)背景上篇介紹了Mastersizer3000激光粒度儀對(duì)石墨負(fù)極材料粒度測(cè)量,以及針對(duì)其測(cè)量中的典型應(yīng)用問(wèn)題所提供的解決方案。那么,天然石墨和人造石墨有什么區(qū)別,以及二者區(qū)別...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-11-25

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)納米顆粒動(dòng)態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng),并通過(guò)圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過(guò)采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過(guò)分析軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,如計(jì)算平均直徑...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-11-21

    納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度,是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度和方向,來(lái)計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào),從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制?;陔妱?dòng)力學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí),其表面帶有電荷。通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度來(lái)推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動(dòng)速度,而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動(dòng)速度。通過(guò)分析納米...

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