x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線，即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí)，會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出，導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí)，會(huì)釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長(zhǎng)與元素的種類(lèi)有關(guān)。通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類(lèi)及其含量。x射線熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)介紹：1、主控制臺(tái)功能模塊：主控制臺(tái)是核心部分，包括檢測(cè)、控制、數(shù)據(jù)處理等功能模塊，負(fù)責(zé)...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對(duì)應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測(cè)角儀掃描過(guò)程中，聚焦圓的半徑會(huì)不斷改變，但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法，在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線，即X射線熒光。這些次級(jí)X射線具有特定的能量或波長(zhǎng)特性，與元素的種類(lèi)有關(guān)。因此，通過(guò)測(cè)量這些次級(jí)X射線的能量或波長(zhǎng)，可以確定樣品中存在的元素種類(lèi)及其含量。X射線熒光光譜儀的維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要，以下是一些關(guān)鍵的維護(hù)保養(yǎng)措施：1、儀器清潔：定期使用無(wú)紡布或棉布擦拭儀器的外表面，以保持其干凈。在清潔過(guò)程中，禁止使用含有溶劑的清潔劑，以免損壞儀器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測(cè)試結(jié)果的質(zhì)量呢？本文將就此問(wèn)題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測(cè)試結(jié)果前，我們要確保所測(cè)試的樣品濃度合適。對(duì)于大多數(shù)剛性納米粒子來(lái)說(shuō)，在合適的濃度范圍內(nèi)，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測(cè)試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過(guò)對(duì)countrate（測(cè)試光強(qiáng)）和attenuator（衰減器編號(hào)）等參數(shù)來(lái)考察...

本文摘要國(guó)家發(fā)改委于2005年發(fā)布了《工業(yè)用精對(duì)苯二甲酸粒度分布的測(cè)定激光衍射法》的中華人民共和國(guó)石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。本文報(bào)告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標(biāo)準(zhǔn)方法對(duì)PTA樣品所進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)過(guò)程，結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)要求。對(duì)苯二甲酸PTA是重要的化工產(chǎn)品，主要用于生產(chǎn)聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產(chǎn)品指標(biāo)。根據(jù)《工業(yè)用精對(duì)苯二甲酸粒度分布的測(cè)定激光衍射法》的中華人民共和國(guó)石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...