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高效安裝X射線衍射儀:分享其前期準(zhǔn)備工作秘訣!
發(fā)布時間:2025-04-07

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...

  • 發(fā)布時間:2023-11-03

    由馬爾文帕納科粒度粒形分析高級應(yīng)用專家黎小宇供稿本文摘要本文記錄了Masterziser3000激光粒度儀和Morphologi-4全自動粒度粒形分析儀對負(fù)極材料進行粒度粒形測試的過程,并提供了解決石墨樣品分散漂浮和細(xì)粉不穩(wěn)定等典型問題的解決辦法。此外,還根據(jù)樣品粒形測試的結(jié)果對電池負(fù)極材料球形度對電池質(zhì)量的影響進行了闡述。全文分為兩篇,此為上篇。實驗背景負(fù)極材料對電池的容量、能量密度、充電效率、循環(huán)壽命、安全性等核心指標(biāo)均產(chǎn)生直接影響。目前,石墨類材料因其穩(wěn)定性高,成本低,...

  • 發(fā)布時間:2023-10-31

    X射線衍射儀是一種強大的科學(xué)工具,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、晶體學(xué)和結(jié)構(gòu)化學(xué)等領(lǐng)域。它能夠通過測量材料中X射線的衍射模式,揭示物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)和相對含量,為科學(xué)家們提供了研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的窗口?;赬射線的衍射現(xiàn)象。當(dāng)X射線通過物質(zhì)時,會與物質(zhì)中的原子發(fā)生相互作用,形成衍射。衍射過程中,X射線的波長與物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān),通過測量衍射角度和強度,可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺、衍射儀和探測器等組成。X射線源產(chǎn)生高能X射線,照射到樣品上。樣品中的晶...

  • 發(fā)布時間:2023-10-27

    本文由馬爾文帕納科應(yīng)用專家周紫微、李航偉供稿本文摘要擴散屏障法是一種通過最小化測量過程的影響來可靠地測量蛋白質(zhì)電泳遷移率的方法。蛋白質(zhì)與施加電場所用的電極接觸會導(dǎo)致樣品發(fā)生變性和聚集,導(dǎo)致Zeta電位明顯變化。本文記錄Zetasizer納米粒度電位儀利用擴散屏障法將樣品分子與電極分離,可以很好地避免電極接觸對蛋白質(zhì)測量的影響。擴散屏障法簡介開發(fā)基于蛋白質(zhì)的產(chǎn)品需要了解它們在溶液中的表現(xiàn),而測量樣品的Zeta電位可通過預(yù)測聚集行為,研究蛋白質(zhì)制劑的穩(wěn)定性。但在實際測量過程中,Z...

  • 發(fā)布時間:2023-10-26

    納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度,是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運動速度和方向,來計算顆粒表面電位的大小和符號,從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機制?;陔妱恿W(xué)原理進行測量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時,其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運動速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運動速度,而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運動速度。通過分析納米...

  • 發(fā)布時間:2023-10-18

    納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器,采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀,其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件,具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復(fù)及測試準(zhǔn)確等特點,是納米顆粒粒度測試的產(chǎn)品。納米粒度儀功能:納米粒度儀可以用于測量固體、液體和氣體中的顆粒大小和分布,其中固體樣品需要先進行樣品制備。通過激光散射和光學(xué)檢測技術(shù),可以確定顆粒的平均直徑、分布范圍和聚集情況等信息。同時,還可以分析顆粒形態(tài)、比表面積、表面修飾等特性。主要原理:◆好的測...

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